產(chǎn)品簡介:
GWB-300型引伸計標(biāo)定儀,是一種純機(jī)械式的高精度位移測微儀器。依據(jù)JJG 762-2007引伸計檢定規(guī)程及JJF 1096-2002引伸計標(biāo)定器校準(zhǔn)規(guī)范的要求,專門用于對各種規(guī)格標(biāo)距引伸計的標(biāo)定。
結(jié)構(gòu)特點及讀數(shù)方式:
1.本儀器由精密微分測量頭、底座支架和加長桿等組成。可以方便地進(jìn)行多種規(guī)格型號引伸計的計量標(biāo)定。
2.精密微分測量頭由滑動量桿、量桿套筒、讀數(shù)內(nèi)筒、讀數(shù)外筒及高精密螺紋副組成。其最大量程25mm;最小分度(游標(biāo)分度) 0.0005mm。
技術(shù)精度指標(biāo):
1. 測量引伸計標(biāo)距最大范圍 600mm(使用兩根300mm加長桿)
2. 測量支座上支臂安裝孔徑 φ12
3. 最大量程 25mm
4. 微分測量頭讀數(shù)內(nèi)筒軸向刻度 0.5mm/格
5. 微分測量頭讀數(shù)外筒圓周刻度 0.005mm/格
6. 游標(biāo)刻度(最小分度值) 0.0005mm
參照標(biāo)準(zhǔn):
JJF 1096-2002 引伸計標(biāo)定器校準(zhǔn)規(guī)范
GB/T 12160-2002 單軸試驗用引伸計的標(biāo)定
JJG 762-2007 引伸計檢定規(guī)程
使用說明:
請依據(jù)JJG762—2007引伸計檢定規(guī)程及JJF1096—2002引伸計標(biāo)定器校準(zhǔn)規(guī)范的要求,進(jìn)行引伸計的檢定:
1、把精密微分測頭固定在底座支架上,在精密微分測量頭上固定一根加長桿可以測量最大標(biāo)距300mm的引伸計,固定兩根加長桿可以測量最大標(biāo)距600mm的引伸計。在精密微分測量頭下端留出至少25mm的位移空間,旋緊各個所需緊固部位,在檢定過程中除準(zhǔn)許運動位移的部分外,都不準(zhǔn)許有任何滑動或松動。
2、引伸計檢定范圍及檢測點的選擇與測試:
1). 檢定范圍應(yīng)根據(jù)引伸計需要測試材料的技術(shù)參數(shù)決定。例如,使用50mm標(biāo)距引伸計測試鋼材試樣的σP0.2技術(shù)數(shù)據(jù),那么請您選擇1mm的檢定量程。如果測量n值則需要檢定25mm的檢定量程。
2). 對檢定點的選擇,一般每個范圍不少于8點。 對于上述選例在1mm的檢定量程內(nèi),最好檢定10點,即每0.1mm檢一點。
3). 檢定引伸計時一定用整數(shù)刻度倍讀法,不要用游標(biāo)估算讀數(shù)或小數(shù)尾數(shù)讀數(shù),因為每一次的十點讀數(shù)已造成了讀數(shù)的疲勞,估算讀數(shù)或小數(shù)尾數(shù)讀數(shù)會加劇測量誤差的產(chǎn)生。而整數(shù)單刻線對整讀法最清晰簡單準(zhǔn)確,出現(xiàn)誤差的機(jī)率最小,即便出現(xiàn)也會及時發(fā)現(xiàn),因為整數(shù)刻度倍讀數(shù)的誤差,其引伸計誤差值也會成倍數(shù)增加,這種粗大誤差會被很快及時發(fā)現(xiàn)。
GWB-300型引伸計標(biāo)定儀主要配置:
精密微分測量頭 一個
底座支架 一套
300 mm加長桿 兩根
外包裝箱 一個
鑰匙 兩個
1、測量引伸計標(biāo)距最大范圍 600mm(使用兩根300mm加長桿)
2、測量支座上支臂安裝孔徑 φ12
3、最大量程 25mm
4、微分測量頭讀數(shù)內(nèi)筒軸向刻度 0.5mm/格
5、微分測量頭讀數(shù)外筒圓周刻度 0.005mm/格
6、游標(biāo)刻度(最小分度值) 0.0005mm
參照標(biāo)準(zhǔn):
JJF 1096-2002 引伸計標(biāo)定器校準(zhǔn)規(guī)范
GB/T 12160-2002 單軸試驗用引伸計的標(biāo)定
JJG 762-2007 引伸計檢定規(guī)程